La Fédération de Métallurgie Francilienne (FERMI) vous invite à une journée thématique le 13 décembre sur le thème de « l’apport de la microscopie électronique en transmission et sciences des matériaux« .
La journée se déroulera à l’Ecole de Chimie ParisTech.
L’inscription est gratuite mais obligatoire avant le 3 décembre 2019. Pour s’inscrire, merci de remplir le bulletin d’inscription pdf disponible en bas de page et de le renvoyer à l’adresse federation.fermi@gmail.com
Nous espérons vous voir nombreux le 13 décembre !
Le comité d’organisation
| 9h | Introduction de la journée |
| 9h15 | Microscopie électronique en transmission in-situ : approche des phénomènes dynamiques, Jean-Philippe Couzinié ICMPE |
| 9h45 | How to characterize comprehensively dislocations in a bulk specimen ? Electron Channeling Contrast Imaging : theory and experiments, Antoine Guitton LEM3 |
| 10h15 | La spectroscopie EDX en microscopie électronique en transmission : de la cartographie chimique d’une microstructure à l’identification d’un atome unique, Frédéric Fossard LEM |
| 10h45 | Pause |
| 11h15 | « EELS » en Microscopie Electronique en Transmission et ses applications en métallurgie, Mike Walls LPS |
| 11h45 | Tomographie électronique : principes et application en science des matériaux, Eric Leroy ICMPE |
| 12h15 | Repas – buffet |
| 13h45 | La microscopie électronique corrigée des aberrations pour la métallurgie de demain, Christian Ricolleau LMPQ |
| 14h15 | Monitoring dynamic processes of metal nanostructures in liquids using transmission electron microscopy, Patricia Abellan IMN |
| 14h45 | TKD, l’EBSD en mode transmission, François Brisset ICMMO |
| 15h15 | Pause |
| 15h45 | Apport de (P)ACOM-Astar aux études microstructurales en Microscopie électronique en transmission, Julie Bourgon ICMPE |
| 16h15 | Couplage essais de traction in-situ MEB-EBSD / MET : application aux alliages de titane TRIP-TWIP, Fan Sun et Philippe Vermaut IRCP |
| 16h45 | Pot et inauguration du nouveau MET du Laboratoire de Métallurgie Structurale de l’IRCP |